Exabis Library

Authors: Meunier, C.(1)*;Monte, C.(1);Hadjisavvas, H.(1);Rozieres, A.(2);Roblin, X.(3);Venturin, C.(1);Gay, C.(1);Flourie, B.(1);Boschetti, G.(1);Danion, P.(1);Mathieu, N.(4);Charlois, A.L.(5);Faure, M.(6);Nancey, S.(7);

Authors:

Gutierrez-Grobe Y., Barrera-Ochoa C., Yamamoto-Furusho J.

Authors:

W. Bos*¹, E. H. Lamers¹, B. Oldenburg¹, A. E. van der Meulen - de Jong², G. Dijkstra^{3, 4}, M. Pierik⁵, Q. van der Vliet¹, A. M. van der Aalst⁵, K. van der Aalst¹, J. J. ten Thije¹, M. van der Have¹, H. H. Fidder¹

Authors:

F. Phillips¹, B. Verstockt^2,3, M. Sladek⁴, N. de Boer⁵, K. Katsanos⁶, K. Karmiris⁷, A. Albshesh^8,9, C. Eriksson¹⁰, D. Bergemalm¹⁰, T. Molner¹¹, P. Ellul¹², ECCO CONFER Investigators

Authors:

S. Kjaergaard¹*, M.M.B. Damm¹, J. Chang², L.B. Riis³, R. Hytting-Andreasen⁴, S.M. Krug⁵, J.D. Schulzke⁵, N. Bindslev⁶, M.B. Hansen¹

Authors: Rottoli, M.(1);Pellino, G.(2);Tanzanu, M.(1);Baldi, C.(3);Frontali, A.(4);Carvello, M.(5);Foppa, C.(5);Kontovounisios, C.(6);Tekkis, P.(6);Colombo, F.(7);Sancho-Muriel, J.(8);Matteo, F.(8);Danelli, P.(7);Celentano, V.(6);Spinelli, A.(5);Panis, Y.(4);Sampietro, G.(3);Poggioli, G.(1);

Authors:

Golovics P.A., Gonczi L., Kurti Z., Lovasz B.D., Gecse K.B., Vegh Z., Lakatos P.L.

Authors:

X. Moisset^{1, 2}, G. Bommelaer^{3, 4}, M. Boube³, L. Ouchchane⁵, M. Goutte^{3, 4}, M. Dapoigny³, R. Dallel², A. Guttman⁵, P. Clavelou¹, A. Buisson*^{3, 4}

Authors: Ben Safta, N.(1)*;Ben Mustpha, N.(1);Khemiri, W.(1);Serghini, M.(1);Laabidi, S.(1);Fekih, M.(1);Labidi, A.(1);Boubaker, J.(1);

Authors:

H. Htet*¹, T. Mudege¹, S. Hoque¹

Authors: Nascimento, C.(1);Frias Gomes, C.(1);Morão, B.(1);Cúrdia Gonçalves, T.(2);Dias de Castro, F.(2);Moreira, M.J.(2);Cotter, J.(2);Pereira, F.(3);Caldeira, A.(3);Rosa, C.(4);Macedo, G.(4);Macedo, C.(5);Ferreira, M.(5);Cravo, M.(1);Glória, L.(1);Torres, J.(1);Palmela, C.(1);

Authors:

V. Jairath¹, W.J. Lee², W. Zhou³, G. Heap³, J. Butler⁴, A.L. Shields⁵, S. Ollis⁵, N. Harpaz⁶

Authors:

S. Saraiva*¹, I. Rosa¹, J. Moleiro¹, J. Pereira da Silva¹, R. Fonseca¹, A. Dias Pereira¹

Authors: Klomberg, R.(1);van der Wal, H.(1);Sarbagili, C.(2);Kemos, P.(3);Ruemelle, F.(4);Croft, N.(3);de Ridder, L.(1);Levine, A.(2);

Authors:

Wang Z., Zhu M., Luo C., Mu J., Yu Z., Zhang H.

Authors:

M. Calafat*¹, T. Lobatón¹, A. Hernández-Gallego², M. Mañosa¹, P. Torres-Rodriguez¹, E. Cabré¹, I. Ojanguren², E. Domènech¹

Authors: Broglio, G.(1)*;Lenti, M.V.(1);Mengoli, C.(2);Borrelli De Andreis, F.(1);Vernero, M.(1);Pitotti, L.(1);Padovini, L.(1);Delliponti, M.(2);Klersy, C.(3);Corazza, G.R.(1);Di Sabatino, A.(1);

Authors: Zittan, E.(1,2);Steinhart, A.H.(3);Aran, H.(1);Milgrom, R.(3); Koifman, E.(1);Gralnek, I.M.(1); Zelber-Sagi, S.(2);Silverberg, M.S.(3);

Authors:

S. Bernardo¹*, P. Lago², T. Moreira², D. Ferreira², I. Pedroto², F. Castro-Poças²

Authors:

M. STEENHUIS, K. van Son