Exabis Library

Authors:

K. Sahnan¹*, A. Verjee², S. Blackwell³, R. Sawyer², S. Mannick⁴, M.J. Lee⁵, S.O. Adegbola¹, P.J. Tozer¹, N. Heywood⁶, A.L. Hart⁷, N.S. Fearnhead⁸

Authors: Soto Sánchez, A.(1);Hernandez Camba, A.(2);Hernández, M.(1);Hernández, G.(1);Pérez Sánchez, E.(1);Barrera Gómez, M.(1);

Authors: Perrott, C.(1)*;Calini, G.(2);Gori, A.(3);Rottoli, M.(3);Garoufalia, Z.(4);Wexner, S.(4);Celentano, V.(1);

Authors:

P. Wils¹, P. Seksik², C. Stefanescu³, S. Nancey⁴, M. Allez⁵, D. Laharie⁶, G. Pineton De Chambrun⁷, R. Altwegg⁷, C. Gilletta⁸, L. Vuitton⁹, S. Viennot¹⁰, M. Serrero¹¹, M. Fumery¹², G. Savoye¹³, M. Collins¹⁴, F. Goutorbe¹⁵, H. Brixi¹⁶, G. Bouguen¹⁷, N. Tavernier¹⁸, M. Boualit¹⁹, A. Amiot²⁰, V. Abitbol²¹, B. Pariente²²

Authors: Li, Y.(1);Yao, D.(1);

Authors: Frasson, M.(1);Pinkney, T.(2);Gisbert, J.P.(3);Rodriguez-Lago, I.(4);Blackwell, S.(5);Gecse, K.B.(6);Buskens , C.J.(7);Knowles, C.(8);Zmora, O.(9);Brookes, M.(10);Fiorino, G.(11);Nos, P.(12);Gallo, G.(13);Pata, F.(14);Verjee, A.(15);Leone, S.(16);PellinoMD- PhD- FRCS- FEBS Colo- FASCRS- FACS, G.(17)*;

Authors:

E. Orfanoudaki¹*, M. Gazouli², K. Foteinogiannopoulou¹, E. Theodouraki¹, E. Legaki², I. Koutroubakis¹

Authors: Alsoud, D.(1);Sabino, J.(1,2);Ferrante, M.(1,2);vermeire, S.(1,2);Verstockt , B.(1,2);

Authors:

P. Vernia*, G. Burrelli Scotti, M. T. Afferri, V. Vaiarello

Authors:

R. Ranjan*¹, S. Myers², L. Crissop¹, S. Ritchie¹, F. Maw¹, S. Sebastian², A. Dhar¹

Authors:

Pauwels R.W.M., De Vries A.C., Van der Woude C.J.

Authors:

S. Danese¹, R. Panaccione², L. Peyrin-Biroulet³, C. Marano⁴, C.D. O’Brien⁴, H. Zhang⁵, Y. Zhou⁵, J. Johanns⁵, E. Scherl⁶, R.W.L. Leong⁷, D.S. Rowbotham⁸, R.P. Arasaradnam⁹, B.E. Sands¹⁰

Authors:

Fumery M.^*1, Singh A.², Khera R.³, Prokop L.⁴, Curtis J.⁵, Sandborn W.⁶, Singh S.⁶

Authors:

B. Doeve¹, F. van Schaik*¹, M. van de Meeberg¹, H. Fidder¹

Authors:

F. Mocciaro*¹, R. Di Mitri¹, G. M. Pecoraro¹, D. Scimeca², G. Russo¹, F. Bossa², V. Costanza¹, D. Varvara², M. A. Profita¹, G. Profeta¹, G. Martino²

Authors: Vuijk, S.(1)*;Jongsma, M.(1);Cozijnsen, M.(1);van Pieterson, M.(1);de Meij, T.(2);Norbruis, O.(3);Groeneweg, M.(4);Wolters, V.(5);van Wering, H.(6);Hojsak, I.(7);Kolho, K.L.(8);Hummel, T.(9);Stapelbroek, J.(10);van der Feen, C.(11);van Rheenen, P.(12);van Wijk, M.(2);Teklenburg, S.(3);Escher, J.(1);de Ridder, L.(1);

Authors: Kim, K.(1);Hong, H.S.(1);Oh, K.(1);Lee, J.Y.(1);Hong, S.W.(1);Park, J.H.(1);Hwang, S.W.(1,2);Yang, D.H.(1);Byeon, J.S.(1);Ye, B.D.(1,2);Myung, S.J.(1);Yang, S.K.(1,2);Park, S.H.(1,2);

Authors:

A. Ito*

Authors: Azevedo, M.F.C.D.(1);Justus, F.F.(1);Lima, C.C.G.(1);Garcia, K.S.(1);Barros, L.L.(1);Oba, J.(1);Carlos, A.D.S.(1);Milani, L.R.(1);Sipahi, A.M.(1);Damião, A.O.M.C.(1);Queiroz, N.S.F.(1);

Authors:

A. CHUPIN¹, V. Perduca², C. Bellanger¹, F. Carbonnel¹, C. Dong¹