Exabis Library

Authors:

B. Scrivo*¹, A. F. Aiello², E. Giuffrida², V. Calvaruso², M. Cappello²

Authors:

M. Peverelle*, C. Mills, A. Testro, P. de Cruz

Authors:

Ferrante M.^*1, Van Steenbergen S.¹, Bian S.², Ballet V.¹, Vermeire S.¹, Van Assche G.¹, Gils A.²

Authors:

T. Knezevic¹, M. Milic², A. Kalaba¹, S. Sreckovic¹, B. Stopic³, P. Svorcan¹, S. Markovic¹

Authors:

J. Kim*¹, J. P. Im¹, J.-J. Yim², C. K. Lee³, D. I. Park⁴, C. S. Eun⁵, S.-A. Jung⁶, J.E. Shin⁷, K.-M. Lee⁸, J. H. Cheon⁹

Authors: Sagami, S.(1,2);Kobayashi, T.(1);Aihara, K.(3);Umeda, M.(3);Odajima, K.(3);Morikubo, H.(1,2);Asonuma, K.(1);Miyatani, Y.(1);Fukuda, T.(1,2);Matsubayashi, M.(1,2);Kiyohara, H.(1,2);Nakano, M.(1,2);Hibi, T.(1);

Authors:

L. R. Lopetuso*¹, V. Petito¹, C. Graziani¹, A. Quagliariello³, F. Del Chierico³, L. Putignani³, T. T. Pizarro⁴, A. Armuzzi¹, F. Scaldaferri¹, A. Gasbarrini¹

Authors:

Yamamoto T., Shimoyama T., Umegae S.

Authors:

E. Krishnan*, N. Zhang, H. Wang

Authors: Husnoo, N.(1);Gana, T.(2);Hague, A.G.(2);Khan, Z.(2);Morgan, J.L.(1);Wyld, L.(1);Brown, S.R.(2)*;

Authors: Kantasiripitak, W.(1);Mathôt, R.(2);Oldenburg, B.(3);Buisson, A.(4);Ferrante, M.(5,6);Laharie, D.(7);D’Haens, G.(8);Vermeire, S.(5,6);Dreesen, E.(1,9);

Authors:

A. Atanassova, A.C. Georgieva, M. Mirchev

Authors:

D. Turner*¹, C. Nehemia¹, A. Yerushalmy-Feler², A. Assa³, M. Slae⁴, M. Kori⁵, Y. Elenberg⁶, R. Shaoul⁷, E. Zifman⁸, H. Shamaly⁹, D. Berkowitz¹⁰, S. Peleg¹¹, B. Yerushalmi¹², E. Broide¹³, A. Aon¹⁴, O. Elkayam¹⁵, H. Bayan¹⁶, A. Gorodnichenko¹⁷, V. Pinsk¹⁸, D. Shouval¹⁹

Authors:

N.S. Armbruster*, U. Denzau-Graupner, T. Klag, M. Götz, N. Malek, J. Wehkamp

Authors: Aksan, A.(1,2);Aksan, S.(1,3);Farrag, K.(1);Schröder, O.(1,3);Stein, J.M.(1,3,4);

Authors:

Lopetuso L.R.^*1,2, Petito V.³, Graziani C.³, Scannone D.⁴, Scaldaferri F.⁵, Pizarro T.T.⁶, Gasbarrini A.³

Authors:

T. Engel*¹, G. Ben-Haim², N. Levhar¹, R. Eliakim¹, S. Ben-Horin¹

Authors: Rosiou, K.(1);Carbonell, J.(1);Dolby, V.(1);Monfared, N.(1);Selinger, C.(1);

Authors: Young, D.(1,2);Booker, C.(1);Samaan, M.(3);Limdi, J.(4,5);Kok, K.(6);Donovan, F.(7);Hart, A.(8);Smith, M.(9);Bodger, K.(10);Batchelor, J.(2);Cummings, F.(1,2)*;

Authors:

C.G. af Björkesten¹, T. Ilus², T. Hallinen³, E. Soini³, A. Eberl¹, K. Hakala⁴, M. Heikura⁵, E. Hirsi⁶, A. Jussila², M. Kellokumpu⁷, R. Koskela⁸, I. Koskinen⁹, V. Moilanen¹⁰, C. Nielsen¹¹, U. Nieminen¹, H. Nuutinen¹², M. Heikkinen¹³, U.M. Suhonen¹⁴, J. Tillonen¹⁵, K. Utriainen¹⁶, I. Vihriälä¹⁷, C. Wennerström^18,19, A. Borsi²⁰, R. Nissinen²¹, M. Koivunen²¹, T. Sipponen¹